ケツト科学研究所

ケツト科学研究所 電磁式膜厚計LE-200J

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ケツト科学研究所 電磁式膜厚計LE-200J

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校正書類の発行可(有償)
 

■プリンタ内蔵型膜厚計
■磁性金属上に施されたメッキ(電解ニッケルメッキは除く)・塗装・ライニングなどの膜厚を、被膜に傷をつけることなくすばやく正確に測定
■測定結果をその場でプリントアウト

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製品名 価格
商品コード K-LE-200J
ケツト科学研究所 電磁式膜厚計LE-200J
税別 371,800円
(税込 408,980円)

ケツト科学研究所 電磁式膜厚計LE-200Jの特長

電磁式膜厚計LE-200Jは磁性金属上に施された被膜厚を測定する電磁膜厚計

ボタン操作ひとつで平均値・標準偏差・ 最大値・最小値が求められる統計計算機能、素地の違いによ る誤差をなくすキャリブレーション・メモリ機能、膜厚の管 理範囲を指定するリミット設定機能などを装備しています。

測定結果は内蔵プリンタでプリントアウトできます。

  • プリンタ内蔵の膜厚計
  • 日付け、ロット番号、測定結果をその場でプリントアウトし、資料として提出することが可能です。

  • 膜厚管理に必要な統計計算機能
  • 測定結果の平均値、標準偏差、最大値、最小値などを簡単な 操作で求めることができます。

  • キャリブレーション・メモリ機能
  • 素地の材質、形状、厚みの変化に対応するため、その素地に最適な検量線を電磁方式4種をあらかじめ登録し呼び出すことが可能です。

  • リミット設定機能
  • 管理対象膜厚の上限値、下限値を設定しておくことができます。

    設定範囲外の膜厚を測定した場合、ブザーで警告し表示部に警告マークを表示します。

  • 小型プローブ
  • ペンシルタイプの一点接触定圧方式プローブで、測定場所を選ばず安定した測定値が得られます。

  • 耐摩耗性に優れたプローブチップ
  • 測定プローブの先端チップに電磁方式はチタンコーティングを採用

  • 測定原理 電磁誘導式(LE-200JのFeプローブ)
  • 交流電磁石を鉄(磁性金属)に接近させると、接近距離によって、コイルを貫く磁束数が変化し、そのためコイル両端にかかる電圧が 変化します。

    この電圧変化を電流値から読み取り、膜厚に換算したのが電磁式膜厚計です。

    ケツト科学研究所 電磁式膜厚計LE-200Jの仕様

    測定方式
    電磁誘導式
    測定対象 磁性金属上の非磁性被膜
    測定範囲 0~1500μmまたは60.00mils
    測定精度 15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2%
    分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm
    適合規格 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
    統計機能 測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号
    プローブ 一点接触定圧式(LEP-J)
    表示方法 デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)
    外部出力 RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps)
    電源 AC100V(50/60Hz)または
    電池1.5V(単3アルカリ)本体部×6、プリンタ部×4
    寸法・質量 120(W)×250(D)×55(H)mm、1.0kg
    付属品 標準板、鉄素地、標準板ケース、電池1.5V(単3アルカリ)、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
    オプション L字型プローブ(LEP-21L)、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」

    (McWAVE Lite、McWAVE Standard、McWAVE Professional、MultiPropはCEC社の商標です。)

    関連カテゴリ

    試験機器 > 膜厚計