デュアルタイプ膜厚計MJ-TG21 サトテックの特長

- ミクロンとミルの両方の単位(μm)での膜厚測定が可能です
- 小型軽量のため片手で操作可能
- 測定時間は、1秒
- オートパワーオフ(自動電源OFF)で電池をムダにしません
- 測定完了をアラームでお知らせ
- 測定最終値、測定平均値、測定最大値、測定最小値、測定点の総数が確認可能です
- 簡単にボタンで校正が可能です
- 継続測定モードでは、自動的に測定値を表示、記録します。 時々刻々の最大値、最小値、平均値もディスプレイに表示されます
安定した測定

膜厚計デュアルタイプMJ-TG21のプローブは、先端が曲率のある対象物の測定用に M字の溝が切ってあり、測定値の安定性が得られます。
1台で磁性/非磁性金属素地の皮膜を計測可能
鉄,鋼などの磁性金属でもアルミニウムなどの非磁性金属でも両方の素地の計測が可能な、ハンディタイプの膜厚計です。
ISO2178やISO2360に準拠
電磁方式、渦電流(磁性金属・非磁性金属両用)の両方式の一体型塗装膜厚計
磁性金属(Fe)か非磁性金属(NFe)を自動判定してくれるので誰でも簡単に膜厚測定が可能です。
安価、正確
磁性金属・非磁性金属両用型で、磁性金属でも非磁性金属でもこれ1台でOK。
- 99データの記録可能、平均値機能つき
- 別売り:パソコン接続用ソフト&USBケーブルでリアルタイムでPCにデーターを出力可能
- 膜厚計TG8855FN2M一体型から型番が変更になりました

アルミ/非磁性金属の素地の上のメッキ(金属)膜厚計測はできない
SUSに関しては、加工によってムラ(磁性を帯びる所、帯びない所)のある場合があり膜厚測定不能の場合あり
デュアルタイプ膜厚計MJ-TG21 サトテックは、磁性金属か非磁性金属を自動判定
センサ部を塗装被膜に垂直に押し当てます。
鉄,鋼などの磁性金属素地の場合は “Fe”
アルミなどの非磁性金属素地の場合は “NFe” と自動認識し、測定値がディスプレイに表示されます。
膜厚計デュアルタイプMJ-TG21で確認
事故車は、膜厚にムラがあります。
デュアルタイプ膜厚計MJ-TG21 サトテックの用途
- 自動車塗装膜検査に
- 事故車の判定、塗装仕上げの品質、再塗装有無を見習いでも簡単に判定可能
- 自動車ショップ、塗装業、自動車修理業、自動車ディラーに人気機種
- ペイントやラッカーの処理作業に
- 電気メッキ工場に
- 宇宙航空産業に
- 製造部門やその現場に
- 商品の最終受入検査に
- 試験期間またはコンサルタントに
- 自動車産業に
デュアルタイプ膜厚計MJ-TG21 サトテックの仕様
測定方式 | 電磁・渦電流式兼用 |
---|---|
測定対象 | 磁性金属上の非磁性皮膜
及び 非磁性金属上の絶縁皮膜 |
計測範囲 | 膜厚計デュアルタイプMJ-TG21:0-2000μm |
分解能 | 0.1μm (0-99.9μm) |
1μm (100μm以上) | |
精度 | 読み取り値の±3% か2.5μmの大きい方 |
最小計測面積 | 6mm x 6mm |
最小素地厚 | 0.5mm
|
電源 | アルカリ単4電池×2本 |
寸法 | 126 x 65 x 35mm |
重量 | 本体: 約90g (電池含まず) |
付属品 | ・本体
![]() ・アルカリ単4電池×2 ・テスト用ゼロ板(鉄素地、アルミ素地) ・プラスチック標準片セット ・ストラップ ・取り扱い説明書 ・携帯に便利なケースつき ![]() |
もしくは、測定対象と同種、同形状、同厚のものでゼロ点、標準調整を行ってください。
デュアルタイプ膜厚計MJ-TG21 サトテックのオプション
PC通信用ソフトウェアTG21/2C専用
測定した結果をリアルタイムで、RS232・USBケーブル経由でPCに測定値を表示させ、その結果をExcelなどへ出力することができます。
※注意:膜厚計本体の記録データのダウンロードは出来ません。


デュアルタイプ膜厚計MJ-TG21 サトテック使用上の注意点
- プローブのあて方は、垂直に、すばやく押し当てること
- 押し当て方が遅いと大きな誤差になります。測定面から離しても表示は消えません。
- 操作以外のときは、プローブを金属製品から5cm以上、離すこと
- 起動中の間は、プローブを空中に置いてください。(プローブの先端部を非接触状態に保持)
- プローブで対象物の表面をこすらないこと。プローブの先端が削れたり、汚れを付着させることになります。(補償外)
こちらの製品もいかがですか?- 関連製品 -

MJ-TG2Cは電磁式膜厚計+渦電流式膜厚計の両用型。 鉄・非鉄の素地金属を自動判別。細いプローブが人気の理由。 比較的にR面に強い膜厚計。■鉄/非鉄両用。磁性/非磁性金属素地の皮膜を計測できるデ…