ケツト科学研究所

ケツト科学Kett 膜厚計 L-500

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校正書類の発行可:有償

プリンタ内蔵の膜厚計最上位モデル。
測定から統計・印字までの手順を一台で完結。
ブロック/グループ統計計算機能搭載。
電磁式・渦電流式の対応プローブ(別売)が接続可能。
磁性体および非磁性金属上の被膜厚の測定ができます。
AC電源・電池駆動の両方に対応。

【対応プローブ(別売)】
・電磁式プローブ(磁性金属素地用)：EP-100
・渦電流式プローブ(非磁性金属素地用)：HP-100

送料/代引手数料無料本体のみ

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製品名	価格
商品コード K-L-500 ケツト科学Kett 膜厚計 L-500 `※別売プローブが必要です`	税別 259,800円（税込 285,780円）
商品コード K-L-500-EP100 ケツト電磁式プローブ EP-100 (L-500用) `※磁性金属素地用。測定範囲:0～2,500μm`	税別 104,500円（税込 114,950円）
商品コード K-L-500-HP100 ケツト渦電流式プローブ HP-100 (L-500用) `※非磁性金属素地用。測定範囲:0 ～ 1,200μm`	税別 133,000円（税込 146,300円）

仕様

膜厚計L-500本体仕様

測定方式	電磁誘導式または渦電流式
測定対象	磁性金属上の非磁性被膜または非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲	※プローブによって異なる電磁式(EP-100)の場合：0～2,500μmまたは99.0mils 渦電流式(HP-100)の場合：0～1,200μmまたは47.0mils
測定精度	※プローブによって異なる電磁式(EP-100)の場合：15μm未満：±0.3μm、15μm以上1,000μm：±2％、 1,000μm以上：±3% 渦電流式(HP-100)の場合：50μm未満：±1.0μm、50μm以上：±2％
分解能	100μm未満：0.1μm、100μm以上：1μm
適合規格	電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376 渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376
統計機能	測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
プローブ	一点接触定圧式（EP-100、HP-100）
表示方法	デジタル（LCD、表示最小桁0.1μm）
外部出力	USBシリアル
電源	AC100-240Vまたは電池1.5V（単3アルカリ）×8（本体用×4、プリンタ部×4）
寸法・質量	126（W）×256（D）×93（H）mm、750ｇ
付属品	鉄素地(EP-100用)、アルミ素地(HP-100用)、標準板（10μm・50μm・100μm・500μm・1000μm・1500μm いずれも近似値・各1枚）、電池1.5V（単3アルカリ）ACアダプタ、電源コード、プローブアダプタ、ストラップ、プリンタ用紙、表面保護シート、標準板ケース、キャリングケース、調整かんたんガイド、取扱説明書
オプション	標準板(付属品以外の厚さ)、膜厚計測定スタンドLW-990、校正（校正証明書、校正成績書、トレサビリティ体系図）

プローブEP-100の仕様

測定方式	電磁誘導式
測定対象	磁性金属上の非磁性被膜
測定範囲	0 ～ 2,500μmまたは99.0mils
測定精度	15μm未満±0.3μm 15μm以上1,000μm未満±2% 1,000μm以上±3%

プローブHP-100の仕様

測定方式	渦電流式
測定対象	非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲	0 ～ 1,200μmまたは47.0mils
測定精度	50μm未満±1.0μm 50μm以上±2%

ケツト科学Kett 膜厚計 L-500

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